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Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心水文儀器類DP-IR-2雙波段發(fā)射率測試儀/遠(yuǎn)紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀
雙波段發(fā)射率測試儀/遠(yuǎn)紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀
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雙波段發(fā)射率測試儀 、遠(yuǎn)紅外線測試儀采用反射率法的測試原理,即通過采用主動(dòng)黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率,而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測量常溫樣品在3~5um、8~14um、1~22um三個(gè)波段發(fā)射率。對需要的用戶,通過的控溫加熱裝置,在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品,行發(fā)射率變溫測量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對材料紅外輻射特性的測量研究。目前已在西北核所,東南大學(xué)等單位使用。
儀器特點(diǎn):
1.儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,采用六位度微機(jī)控溫儀(能顯示到1mk),使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍,而且地提了儀器在測量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。
2.采用了的光學(xué)調(diào)制,使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3.在儀器中,考慮到樣品漫反射引起的測量誤差,除鏡反射(MR)探測通道外,還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補(bǔ)償通道,從而確保了儀器的測量度。
4.在信號及電子學(xué)處理上采用鎖相和微電子,較好地實(shí)現(xiàn)了對微弱信號的探測,步提了儀器性能。
5.本儀器操作簡單、使用方便、測量快速。
6.可按需更換濾光片,在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)行測試。
7.在測量過程中不損傷被測樣品。
8.本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要標(biāo)
1.測量波段:3~5um、8~14um、1~22um
(若用戶有要求,可定制不同波段濾光片)
2.發(fā)射率測量范圍:0.1~0.99
3.靈敏度NE△ε:0.001
4.示值誤差:±0.02 (ε>0.50)
5.重復(fù)性:±0.01
6.樣品溫度:常溫(用戶為常溫~300℃)
7.樣品尺寸:>Ф50
8.測量時(shí)間:3秒后按測量鍵E,即顯示ε測量值。
9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001
10.電 源: 交流220V 50HZ
2.
陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 型號:DP-ZCY
、陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 概述
該儀器適用于測定各種墻面磚、地面磚尺寸及形狀特性之儀器,其所測參數(shù)包括面磚的邊直度、直角度、平整度(中心彎曲度、邊彎曲度、翹曲度)等幾項(xiàng)標(biāo)。本產(chǎn)品符合:GB/T3810.2-2006,idt ISO 10545-2-1995《陶瓷磚-尺寸和表面質(zhì)量的檢驗(yàn)》的要求。
二、陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 主要參數(shù)
1、測量度:±0.1mm
2、測量范圍:60×60~600×600 ,60×60~800×800,60×60~1000×1000mm用戶自選;
3、標(biāo)準(zhǔn)板客戶選購(選購件)
4、根據(jù)用戶要求可選用數(shù)顯表。(選購件)
三、陶瓷磚平整度、直角度、邊直度綜合測定儀 原理及結(jié)構(gòu)
本儀器由支承平板、可移動(dòng)的左支座和右支座組成個(gè)直角坐標(biāo)系。在平板上有三個(gè)等支承銷與陶瓷面磚類似外形和具有理想尺寸的標(biāo)準(zhǔn)板行探測,并將儀表值調(diào)整至適當(dāng)位置,并記下該示值。然后,以被測陶瓷面磚取代標(biāo)準(zhǔn)板,在不移動(dòng)測量點(diǎn)的情況下,分別測出六項(xiàng)標(biāo)參數(shù)。左、右支座及中心測量支座可在平板上作平行移動(dòng),組成不同位置的空間座標(biāo),以適應(yīng)不同規(guī)格尺寸陶瓷面磚的測定。
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