為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照標(biāo)GB/T1553及SEMI MF-1535用頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀。

產(chǎn)品型號：DP-LT-100C

更新時(shí)間：2016-09-30

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數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀型號：DP-LT-100C

為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照標(biāo)GB/T1553及SEMI MF-1535用頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀。

該設(shè)備是按照家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的頻光電導(dǎo)衰減法”。頻光電導(dǎo)衰減法在我半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過數(shù)次十多個(gè)單位巡回測試的考驗(yàn)，證明是種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量；也可對硅片行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，制樣簡便。

DP-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點(diǎn)：

1、可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面行測量。同時(shí)可測量多晶硅檢驗(yàn)棒及集成電路、整流器、晶體管級硅單晶的少子壽命。

2、可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。

3、配備軟件的數(shù)字示波器，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時(shí)顯示動(dòng)態(tài)光電導(dǎo)衰退波形，并可聯(lián)用打印機(jī)及計(jì)算機(jī)。

4、配置兩種波長的紅外光源：

a、紅外光源，光穿透硅晶體深度較深≥500μm，有利于準(zhǔn)確測量晶體少數(shù)載流子體壽命。

b、短波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強(qiáng)較強(qiáng)，有利于測量低阻太陽能級硅晶體。

5、測量范圍寬廣

測試儀可直接測量：

a、研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。

b、拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω•㎝范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶拋光片。

壽命可測范圍 0.25μS—10ms

溫濕度計(jì)

商品名稱：數(shù)字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數(shù)字式干濕溫度檢測儀/數(shù)字式干濕溫度測定儀
商品型號：DP-JTR15

數(shù)字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數(shù)字式干濕溫度檢測儀/數(shù)字式干濕溫度測定儀 型號：DP-JTR15

數(shù)字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數(shù)字式干濕溫度檢測儀/數(shù)字式干濕溫度測定儀說明：
DP-JTR15干濕溫度測試儀是我公司自主開發(fā)的度溫度測試儀器，可同時(shí)測試自然濕溫度及空氣溫度。
應(yīng)用域：勞動(dòng)場所監(jiān)測、公共場所在線測試、環(huán)境溫度監(jiān)測、建筑節(jié)能、教學(xué)實(shí)驗(yàn)
數(shù)字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數(shù)字式干濕溫度檢測儀/數(shù)字式干濕溫度測定儀特點(diǎn)：
1、可同時(shí)測試自然濕溫度和空氣溫度
2、各通道同步采集、自動(dòng)存儲傳感器
3、支架可安裝在常用三腳架上，解決了現(xiàn)場測試的放置問題
4、不銹鋼金屬封裝溫度傳感器，測試穩(wěn)定
5、傳感器采用標(biāo)準(zhǔn)插頭形式，連接簡單
6、軟件依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)具有自動(dòng)統(tǒng)計(jì)能
數(shù)字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數(shù)字式干濕溫度檢測儀/數(shù)字式干濕溫度測定儀參數(shù)：
1、測量范圍：-20～85℃
2、測量度：±0.5℃（常溫可達(dá)±0.2℃）
3、溫度分辨率：0.1℃
4、響應(yīng)時(shí)間：<2S
5、存儲時(shí)間間隔：1—255分鐘
6、數(shù)據(jù)存儲量：2000組
7、通訊接口：迷你USB
8、電源：標(biāo)準(zhǔn)9V電池